Афанасьев Александр Александрович , Ивлева Ксения Станиславовна , Прохоренков Дмитрий Станиславович
2015 / Номер 3(98) 2015 [ МЕХАНИКА И МАШИНОСТРОЕНИЕ ]
Научно-технический прогресс достиг сегодня такого уровня, что используемая при исследованиях аппаратура должна быть совершенной и сверхточной, а для изготовления ее деталей требуются измерительные приборы эталонной точности. Достижение предельных возможностей в нанометрии связано с использованием высокоразрешающих методов сканирующей зондовой микроскопии: растровой оптической, растровой электронной, сканирующей туннельной и атомно-силовой в сочетании с лазерной интерферометрией и фазометрией. На основе сканирующего зондового электронного микроскопа MIRA-3 LM проведены исследования микростуктур стали 65Г, результаты которых позволяют сделать научные выводы с большей эффективностью, чем прежде.
Ключевые слова:
нанометрология,микроструктуры сплавов,нанотехнологии,электронное сканирование,нанометрия,электронная микроскопия,nanometrology,alloy microstructure,nanotechnologies,electronic scanning,nano measurement,electron microscopy
Библиографический список:
Файлы: